Модель: JEM-2100
Производитель: Japanese Electron Optics Laboratory (JEOL)
Год выпуска: 2007
Страна: Япония
Сертификат: Есть
Применяется для анализа тонкой структуры образцов. Данный микроскоп оборудован приставкой для энергодисперсионного анализа INCA X-sight (Oxford Instruments, Англия), а также имеет возможность работы в сканирующем просвечивающем режиме. Комплекс методик, применяемых в просвечивающей микроскопии, а также расширенные возможности данной комплектации, позволяют получить полное представление о структуре, фазовом и химическом составе, ориентировке зерен, выявить преимущественное распределение химических элементов в участках образца. В комплектацию входят двунаклонный и охлаждаемый держатели (до криогенных температур), применяемый для работы с биологическими образцами.
Основные технические характеристики:
- Ускоряющее напряжение 200 кВ.
- Разрешение 2 Å.
- Требование к образцам фольг: диски диаметром 3 мм, толщиной от 100 до 200 мкм.