№12 Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450

Модель: Nova NanoSem 450
Производитель: FEI Company
Год выпуска: 2013
Страна: Соединенные Штаты Америки
Сертификат: Есть

Предназначен для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка — полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение — 5…30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено-флуоресцентный анализ и картирование образца.